纳米位移台的扫描模式
纳米位移台是一种高精度的微小移动平台，通常用于在微纳米尺度下进行准确位置控制和扫描操作。不同的应用需要不同的扫描模式，以满足特定的研究或制造需求。以下是一些常见的纳米位移台扫描模式：
步进扫描（Step-Scan）： 步进扫描模式是基本的扫描模式之一。在这种模式下，纳米位移台以离散的步进方式移动，每个步进位置停留一段时间以进行测量或观察。这种模式适用于需要高精度的位置控制和稳定性的应用。
连续扫描（Continuous Scan）： 在连续扫描模式下，纳米位移台以连续的方式移动，而不是离散的步进。这种模式适用于需要快速获取数据或图像的应用，但通常牺牲了一些准确度。
螺旋扫描（Spiral Scan）： 螺旋扫描模式将扫描轨迹设计成螺旋形状，从而覆盖样品的整个区域。这种模式适用于快速获取整个样品的图像或表面拓扑信息。
区域扫描（Area Scan）： 区域扫描模式允许纳米位移台在一个特定区域内进行多次扫描，以获取更多的数据或增加图像分辨率。这对于详细的表面分析非常有用。
线性扫描（Linear Scan）： 线性扫描模式将纳米位移台沿着一条线性轨迹移动，通常用于单维度的扫描和测量。
格点扫描（Grid Scan）： 格点扫描模式将样品区域划分成一个规则的网格，并依次扫描每个格点。这种模式适用于在不同位置进行多点测量或数据采集。
轮廓扫描（Profile Scan）： 轮廓扫描模式用于测量或记录样品表面的轮廓或形状，通常用于制造和质量控制应用。
轨迹扫描（Path Scan）： 轨迹扫描模式允许定义自定义的扫描路径，以适应特定的研究需求，例如扫描特定的样品特征或结构。
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